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Publicación de artículo de docente en Journal of Electronic Testing: Theory and Applications

28/12/2012
El artículo “A test platform for dependability analysis of SoCs exposed to EMI and Radiation” del Ing. Juliano Benfica, la Dra. Letícia Maria Bolzani Poehls y el Dr. Fabian Vargas, Profesores del Programa de Posgrado en Ingeniería Eléctrica de la Facultad de Ingeniería de la Pontifícia Universidade Católica do Rio Grande do Sul (Porto Alegre, Brasil), el Dr. José Lipovetzky, docente de la Facultad de Ingeniería de la Universidad de Buenos Aires, el Dr. Ariel Lutenberg, Coordinador del Laboratorio de Sistemas Embebidos de la Facultad de Ingeniería de la Universidad de Buenos Aires, el Ing. Edmundo Gatti, Delegado del Grupo de Compatibilidad Electromagnética del Instituto Nacional de Tecnología Industrial (Buenos Aires), y el Ing. Fernando Hernández, Docente de Telecomunicaciones de la Facultad de Ingeniería, fue publicado en la revista “Journal of Electronic Testing: Theory and Applications”. La publicación, editada por Springer Science+Business Media, fue publicada en diciembre de 2012 (volumen 28, número 6).